完善单片机开发的几点小窍门

如何提高c语言编程代码的效率？

对于这点，系统运行中应考虑的超范围管理参数有：

用c语言进行单片机程序设计是单片机开发与应用的必然趋势。如果使用c编程时，要达到最高的效率，最好熟悉所使用的c编译器。先试验一下每条c语言编译以后对应的汇编语言的语句行数，这样就可以很明确的知道效率。在今后编程时候，使用编译效率最高的语句。各家的c编译器都会有一定的差异，故编译效率也会有所不同，优秀的嵌入式系统c编译器代码长度和执行时间仅比以汇编语言编写的同样功能程度长5-20％。对于复杂而开发时间紧的项目时，可以采用c语言，但前提是要求你对该mcu系统的c语言和c编译器非常熟悉，特别要注意该c编译系统所能支持的数据类型和算法。虽然c语言是最普遍的一种高级语言，但由于不同的mcu厂家其c语言编译系统是有所差别的，特别是在一些特殊功能模块的操作上。所以如果对这些特性不了解，那么调试起来问题就会很多，反而导致执行效率低于汇编语言。

物理参数。这些参数主要是系统的输入参数，它包括激励参数、采集处理中的运行参数和处理结束的结果参数。合理设定这些边界，将超出边界的参数都视为非正常激励或非正常回应进行出错处理。

应用参数。这些应用参数常表现为一些单片机、功能单元的应用条件。如e2prom的擦写次数与资料存储时间等应用参数界限。

如何解决单片机的抗干扰性问题？防止干扰最有效的方法是去除干扰源、隔断干扰路径，但往往很难做到，所以只能看单片机抗干扰能力够不够强了。单片机干扰最常见的现象就是复位；至于程序跑飞，其实也可以用软件陷阱和看门狗将程序拉回到复位状态；所以单片机软件抗干扰最重要的是处理好复位状态。

一般单片机都会有一些标志寄存器，可以用来判断复位原因；另外你也可以自己在ram中埋一些标志。在每次程序复位时，通过判断这些标志，可以判断出不同的复位原因；还可以根据不同的标志直接跳到相应的程序。这样可以使程序运行有连续性，用户在使用时也不会察觉到程序被重新复位过。

如何测试单片机系统的可靠性？

测试单片机软件功能的完善性。这是针对所有单片机系统功能的测试，测试软件是否写的正确完整。

上电、掉电测试。在使用中用户必然会遇到上电和掉电的情况，可以进行多次开关电源，测试单片机系统的可靠性。

老化测试。测试长时间工作情况下，单片机系统的可靠性。必要的话可以放置在高温，高压以及强电磁干扰的环境下测试。

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